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薄膜沉积速度厚度控制器Cygnus 2美国INFICON英福康

薄膜沉积速度厚度控制器Cygnus 2美国INFICON英福康

薄膜沉积速度厚度控制器Cygnus 2美国INFICON英福康
美国INFICON薄膜沉积速度厚度控制器Cygnus 2可同时、单独或以任何组合方式控制6 个来源,无需使用两个或三个控制器。
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库号:M932487 品牌/制造商: 美国INFICON 英福康 型号:Cygnus 2

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INFICON 英福康
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产品介绍

产品名称:INFICON薄膜沉积控制器(Cygnus 2) 
品牌:美国INFICON
产地:美国
型号:Cygnus 2

薄膜沉积速度厚度控制器Cygnus 2美国INFICON英福康

薄膜沉积速度厚度控制器Cygnus 2美国INFICON英福康的介绍:


OLED 应用程序提供**测量精度

Cygnus 2 薄膜沉积控制器在 INFICON 薄膜沉积控制器可靠成熟的性能基础上,增添了更多独特的功能,可帮助您实现 OLED 过程的**价值。Cygnus 2 使用我们 ModeLock 频率测量系统,提供稳定、高分辨率的速率和厚度测量,速率分辨率可达每 1/10 秒 0.00433 Å/s,是行业中的佼佼者。Cygnus 2 具有其他石英晶体控制器无法比拟的性能、品质和功能,赋予您的过程卓越的可重复性。

薄膜沉积速度厚度控制器Cygnus 2美国INFICON英福康功能:

INFICON ModeLock 技术确保获得**、**稳定的速率和厚度测量分辨率,即使在速率极低的情况下
Auto Z 技术通过自动测定沉积材料的 Z 比值,可提高厚度测量的精度
一个 Cygnus 2 即可同时、单独或以任何组合方式控制**多 6 个来源,无需使用两个或三个控制器
彩色 TFT LCD 显示屏使用户很容易看到过程的进展状况
10 Hz 测量
100ms 样本速率下频率范围为 +/-0.0035 Hz
USB 数据存储功能可存储屏幕截图、配方存储和数据记录
多个源厚度合计功能
测量低密度、低速率材料的平均速率(使用稳定源的低速率 OLED 掺杂材料沉积**多 30 秒)
速率显示分辨率可达 0.001Å
4 米 XIU 选件能够在大型系统中使用较长的真空传感器电缆
无沉积控制允许持续控制源,因为基片可以通过沉积室不断循环
6 个标准 DAC 输出和另外 6 个可选输出用于来源控制、速率或厚度监控
可选以太网通信
符合 RoHS 标准

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