库号:M55468 品牌/制造商: 型号:TLE 60
电容寿命试验系统 TLE 60
每通道**大可加载1kV/20mA; 500V/20mA; 250V/50mA,
自动进行长时间电容寿命评价试验。
系统构成:**多装配20块板,每块板拥有10通道。
因为,每通道的电流量,负载容量大。
所以,1通道可连接20个〜50个电容,进行寿命测定和伯恩利试验。
因为设定了限流电阻,所以不会损坏测试品。
TLE规格
加载电压 | 1~250.00V | 10~500.0V | 10~1000.0V |
---|---|---|---|
测定电压 | 0~250.00V | 0~500.00V | 0~1000.0V |
测定电流 | 0~50.000mA 0~5.0000mA 0~500.0 uA |
0~50.000mA 0~5.0000mA 0~500.00uA 0~50.000uA |
0~20.0000mA 0~2.00000mA 0~200.000uA 0~20.0000uA |
泄漏电流 | 0.500~50.000mA | 5.000~50.000mA | 4.000~20.000mA |
**大负载容量 | 1200uF/CH | 1200uF/CH | 1200uF/CH |
上一个产品:电容(温度)特性评价系统 MCL42T/MCL42F
下一个产品:电容绝缘特性评价系统TCL51